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测量、伺候电气自动化、仿真模拟以及软件技术

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基础信息

C202004240019B
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工艺
装备制造
暂无

技术详述

1、阵列天线辐射特性的快速测量技术。

2、天线远场方向图频谱仪多点扫频测量系统。

3、基于分集概念的扫频测量系统。